SPECTRO-XEPOS介紹（四）

重新設計的探測器：

 德國斯派克最新一代偏振能量色散X射線熒光光譜儀SPECTRO-XEPOS采用了新型硅漂移探測器（SDD）。該款探測器在舊型號中具有高分辨率、受光譜干擾小的優(yōu)點。最新版本的表面面積進一步擴大（30mm2）最大程度增加了有效面積。此外，該新款告訴檢測/讀出系統(tǒng)還具有超高的計數率-高達每秒100萬次（CPS）-同事其分辨率也比以往更高。

 它還有助于大幅度提高系統(tǒng)的峰值/背景比，實現極低的檢測限、超高的靈敏度。

   簡單專業(yè)的軟件：

 偏振能量色散X射線熒光光譜儀SPECTRO-XEPOS所使用的SPECTRO XRF Analyzer Pro專業(yè)版操作軟件界面經過重新設計和優(yōu)化-通過第三方測試和認證，具有優(yōu)異的用戶體驗，易于掌握和使用。軟件模塊相互獨立，優(yōu)化了對關鍵信息的訪問進程。一旦回歸完成，常規(guī)分析就是舉手之勞。軟件預置了一些列可選預制應用程序包，滿足用戶的各種需求，實驗室管理人員還可以針對具有應用自制曲線。標準分析范圍涵蓋了納至鈾的一系列元素。適合分析潤滑油、低硫燃料、其他石化產品、化學品、大氣飄塵、熟料/水泥/礦渣、地質樣品、化妝品、食品、藥品、鋼鐵和鋁材版涂層、環(huán)境樣品、土壤和污染等

隨著分辨率的提高，更小的峰值也能從背景中顯示出來，在各種基體上實現優(yōu)秀的檢測限

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